HIOKI IM7587-01

1MHz bis 3GHz Impedanz-Analysator

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HIOKI IM7580-Serie Impedanz-Analysator

Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 100kHz bis 3GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.

 

Wesentliche Merkmale des IM7587-01:

  • 1 MHz bis 3 GHz Messfrequenz
  • Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
  • 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
  • ±0,65%. Grundgenauigkeit
  • Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
  • Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
  • Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
  • Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands

     

 Applikationen

- Charakterisierung von HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern und

  Resonatoren in Forschung und Entwicklung

- Impedanzanalyse über Frequenzsweeps zur Bauteilbewertung und Designoptimierung

- Resonanzanalyse piezoelektrischer Bauteile

- Automatisierte Gut-Schlecht-Bewertung hochfrequenter Komponenten in Labor- und

  produktionsnahen Umgebungen

 

Produktbeschreibung

Impedanzmessungen bis 3 GHz ermöglichen die Analyse von HF-Bauteilen, etwa für

drahtlose Kommunikationsanwendungen. Mit einem Messfrequenzbereich von 1 MHz bis 3

GHz eignet sich der IM7587 unter anderem für die Charakterisierung von Chipinduktivitäten,

Ferritperlen, Filtern, Resonatoren und Anpassnetzwerken im HF-Schaltungsdesign.

 

https://www.hioki.com/euro-en/products/lcr-meters/3-ghz/id_6618

 

Messleistung und Analysefunktionen

Mit einer Grundgenauigkeit von ±0,65% der Impedanz und ±0,38° der Phase ist der IM7587

für präzise Impedanzmessungen bis 3 GHz ausgelegt. Eine typische Wiederholgenauigkeit

von ca. ±0,07% ermöglicht auch bei hohen Frequenzen reproduzierbare Messergebnisse

unter definierten Bedingungen. Die typische Messzeit von 0,5 ms erlaubt schnelle

Frequenzdurchläufe, ohne die Messstabilität zu beeinträchtigen. Prüfsignalpegel von -40,0

dBm bis +1,0 dBm ermöglichen eine anwendungsgerechte Anregung der Prüflinge.

Der IM7587 unterstützt LCR-Messungen, Frequenzsweeps sowie einen kontinuierlichen

Messbetrieb und stellt Funktionen für Comparator- und BIN-Bewertungen sowie Flächen-,

Peak- und Spot-Analysen zur Verfügung. Alle Messeinstellungen und Analysefunktionen

werden direkt über das integrierte 8,4-Zoll-Farb-Touchdisplay vorgenommen. USB-, LAN-

und EXT-I/O-Schnittstellen sind standardmäßig integriert, RS-232C und GP-IB stehen optional zur Verfügung.

Für weiterführende Auswertungen verfügt der IM7587 über eine Ersatzschaltbildanalyse mit

fünf repräsentativen Schaltungsmodellen sowie einer automatischen Modellauswahl auf

Basis der Messdaten. Neben LCR-Modellen mit drei Elementen steht auch ein Modell mit

vier Elementen zur Analyse piezoelektrischer Bauteile zur Verfügung. Diese Modellvielfalt

ermöglicht Anwendungen von der allgemeinen Bauteilcharakterisierung bis zur

Resonatorbewertung.

Testkopf und Testvorrichtungen

Der IM7587 verwendet einen kompakten, handtellergroßen Testkopf, der über ein

spezifiziertes Verbindungskabel mit dem Hauptgerät verbunden ist. Er ist mit Kabellängen

von 1 m oder 2 m verfügbar und ermöglicht damit einen ausgewogenen Kompromiss

zwischen Messgenauigkeit und Installationsflexibilität. Durch die Positionierung des

Testkopfs in unmittelbarer Nähe zum Prüfling wird die Signallänge minimiert und parasitäre

Induktivitäten und Kapazitäten reduziert, die Hochfrequenzmessungen sonst beeinflussen

würden. Dieses Design unterstützt stabile und reproduzierbare Messergebnisse bis 3 GHz

und reduziert zugleich den Platzbedarf auf dem Labortisch in HF-Umgebungen.

Für die Messung von SMD-Bauteilen wird der IM7587 typischerweise in Kombination mit der IM9201 SMD-Testvorrichtung verwendet. Das IM9201 ist für sechs gängige SMD-

Gehäusegrößen von 0201 bis 1210 ausgelegt und stellt eine stabile zweipolige

Kontaktierung an der Unterseite der Bauteile bereit. Die Kontaktgeometrie ist für Messungen über den gesamten Messfrequenzbereich ausgelegt. Die Positionierung erfolgt auf definierten Kontaktflächen mit Anschlag- und Schiebemechanismus, wodurch eine korrekte Ausrichtung und reproduzierbare Platzierung sichergestellt wird. Dies reduziert die

Messstreuung und ermöglicht die präzise Charakterisierung von SMD-HF-Bauteilen wie

Chipinduktivitäten, Ferritperlen und Filtern.

Für eine stabile Montage wird die IM9201 Testvorrichtung auf dem IM9200 Standfuß

befestigt. Der Standfuß sorgt für einen sicheren Stand und eine definierte mechanische

Ausrichtung zwischen Testkopf und Testvorrichtung und enthält eine Lupe zur erleichterten

Handhabung kleiner Bauteile. Für den elektrischen Anschluss der Testvorrichtung an den

Testkopf des Impedanzanalysators ist der Adapter IM9906 erforderlich, der den 3,5-mm-

Anschluss des Testkopfs auf die 7-mm-Schnittstelle der Testvorrichtung adaptiert.

 

Kalibrierung und Messintegrität

Das optionale IM9905 Kalibrierkit stellt OPEN-, SHORT- und LOAD-Referenzstandards zur

Korrektur systembedingter Messabweichungen bei hochfrequenten Impedanzmessungen bis

3 GHz bereit. Die Kalibrierung kompensiert parasitäre Effekte im Messpfad bis zur definierten Referenzebene, einschließlich des Testkopfs des Impedanzanalysators und der

verbindenden Schnittstellen. Der Anschluss der Kalibrierstandards erfolgt über denselben

IM9906 Adapter, der auch für Testvorrichtungen verwendet wird.

Der IM7587 verfügt über umfassende Funktionen zur Kontaktprüfung, darunter DCR-

Prüfung, Hi-Z-Erkennung sowie eine Überprüfung der Messsignalform. Die Kontaktprüfung

kann vor und nach der Messung durchgeführt werden und dient der rechtzeitigen Erkennung fehlerhafter Kontaktierungen sowie der Vermeidung ungültiger Messergebnisse. In Japan entwickelt und gefertigt, ist der IM7587 auf eine dauerhaft stabil Messperformance in Mess-und Prüfumgebungen mit hohen Anforderungen an Langzeitstabilität ausgelegt.

 

Lieferumfang: IM7587-01 Impedanz-Analysator, Testkopf, Verbindungskabel, Netzkabel, Bedienungsanleitung, Anwendungssoftware für Impedanz-Analysatoren (Kommunikationshandbuch)

 

Zugehörige Produkte

- IM9201 SMD-Testvorrichtung

- IM9200 Standfuß

- IM9905 Kalibrierkit

- IM9906 Adapter (3,5 mm / 7 mm)

- IM7585 Impedanz-Analysator

- IM7583 Impedanz-Analysator

- IM7581 Impedanz-Analysator

- IM7580A Impedanz-Analysator

- IM3570 Impedanz-Analysator

- Z3000 GP-IB-Schnittstelle

- Z3001 RS-232C-Schnittstelle

- 9151-02 GP-IB-Anschlusskabel

- 9637 RS-232C-Kabel

Hersteller HIOKI EUROPE GmbH
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